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Información sobre el producto "OTC-KS-NV-SP-031-031"
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
| Altura: | 3,7 mm |
|---|---|
| Ancho: | 31,8 mm |
| Conforme RoHS: | Sí |
| Dimensiones exteriores (AnxPxAl): | 31,8 x 31,8 x 3,7 mm |
| Estado de entrega: | Sin nanoVTEP amplificador |
| Grupo de productos: | Opens Test |
| Juegos de recambio (WS): | WS Keysight |
| Longitud: | 31,8 mm |
| Mesas de prueba de vacío (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Modelo: | nanoVTEP SP 1.2 pulg. |
| Serie: | OTC |
| Temperatura máx.: | 60 °C |
| Temperatura mín.: | 10 °C |
| Tipo: | Prueba sin vectores Keysight |
| Tipo de accesorios: | Accesorios customizados |
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Detalles del producto
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
Otros productos de esta serie:
Datos técnicos
Datos generales
- Grupo de productos: Opens Test
- Serie: OTC
- Tipo: Prueba sin vectores Keysight
- Modelo: nanoVTEP SP 1.2 pulg.
- Tipo de accesorios: Accesorios customizados
- Estado de entrega: Sin nanoVTEP amplificador
- Ancho: 31,8 mm
- Altura: 3,7 mm
- Temperatura mín.: 10 °C
- Temperatura máx.: 60 °C
- Conforme RoHS: Sí
Compatible con
- Mesas de prueba de vacío (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Juegos de recambio (WS): WS Keysight
Datos técnicos
- Longitud: 31,8 mm
- Dimensiones exteriores (AnxPxAl): 31,8 x 31,8 x 3,7 mm
Herramientas y accesorios adecuados
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